1月18日(水)から20日(金)まで東京ビッグサイトで開催される「第46回 ネプコン ジャパン」への出展をご案内します。フレキシブルデバイス等についての各種耐久試験システムとそれらの試験と温度・湿度の環境変化との連動が可能な「環境耐久試験システム」をご紹介します。
耐久試験規格 IEC 62715-6-1 や JEITA ET-4501 で定められた様々な耐久試験を網羅したうえに、実際の製品開発現場において高いニーズがあるサンプルへの張力や摩擦をなくした曲げ試験を実現する「無負荷U字伸縮試験」「無張力屈曲試験」も展示しています。これらの試験システムは、純粋に評価したい動作の耐久性のみの評価を可能にしています。
「環境耐久試験システム」は、事前にプログラムで設定した温度・湿度の変化に連動させて、サンプルの動作、速度等を変化させることができる環境・動作連動型のこれまでにない新しい耐久試験システムです。
「無負荷U字伸縮試験」「無張力屈曲試験」「環境耐久試験システム」についての詳細は、「フレキシブルデバイス環境耐久試験システム」パンフレットをご覧ください。
また、小型卓上型耐久試験機につきましては、各種サンプルについての測定装置等がPCを介してつながり、 PCのプログラムに従って測定等のプロセスと耐久試験プロセスの同期が取れるようになりました。今回の展示では、 小型面状体無負荷U字伸縮試験システムと導体抵抗測定装置をPCによりプログラム制御し、試験サンプル動作と抵抗測定タイミングを合わせたシステムの事例をご紹介いたします。
第46回 ネプコン ジャパン
会場 東京ビッグサイト（電子部品・材料 EXPO，小間番号：W12-6）
会期 2017年1月18日(水)～20日(金)
URL http://www.nepconjapan.jp/
展示予定の耐久試験システムについてのより詳しい情報や、ご不明な点等ございましたらどのようなことでもお問い合わせいただければと思います。
