12月14日(水)から16日(木)まで東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan 2016」への出展をご案内します。
今回の展示ではフレキシブルデバイス等について、各種耐久試験システムとそれらの試験を温度、湿度の環境変化と連動させることができる環境耐久試験システムをご紹介します。
耐久試験システムは、耐久試験規格 IEC 62715-6-1 や JEITA ET-4501 で定められた様々な耐久試験を網羅しています。また、サンプルにかける張力や摩擦をなくした曲げ試験を実現する「無負荷U字伸縮試験」「無張力屈曲試験」は、純粋に評価したい動作についての耐久性のみを評価できるという他にはない特長があります。
環境耐久試験システムは、事前にプログラムで設定した温度、湿度の変化に連動させて、サンプルの動作、速度等を変化させることができる環境・動作連動型のこれまでにない新しい耐久試験システムです。
詳細は、「フレキシブルデバイス環境耐久試験システム」パンフレットをご覧ください。
SEMICON Japan 2016
会場 東京ビッグサイト（東展示棟 Hall3，小間番号：3741）
会期 2016年12月14日(水)～16日(金)
URL http://www.semiconjapan.org/
展示予定の耐久試験システムについてのより詳しい情報や、ご不明な点等ございましたらどのようなことでもお問い合わせいただければと思います。
